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Nanoescale Characterization of ferroelectric thin films

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dc.creator.authorPrieto P. Pedro
dc.date.accessioned2019-03-04T04:16:49Z
dc.date.available2019-03-04T04:16:49Z
dc.date.issued2005
dc.description.contentDurante el desarrollo del proyecto pudimos optimizar las condiciones de crecimiento de películas delgadas ferroelectricas del compuesto Pb (Zr, Ti) o3, PZT en el sistema de pulverización catódica soportada con campo magnético a altas presiones de O2 (80%) / Ar (20%) y a temperatura del sustrato de 600 C.
dc.description.projectidIP 1106-05-12408
dc.format.dimensions28 cm.
dc.format.extent45 p.
dc.format.othergrasf.,
dc.identifier.urihttps://repositorio.minciencias.gov.co/handle/20.500.14143/33614
dc.publisher.nameUniversidad del Valle,
dc.publisher.placeCali :
dc.subject.lembFERROELECTRICIDAD
dc.subject.lembPULVERIZACION
dc.subject.lembCAMPOS MAGNETICOS
dc.subject.lembTEMPERATURA
dc.subject.lembMANOMETROS
dc.titleNanoescale Characterization of ferroelectric thin films
dspace.entity.typePublication

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