Metodología para la caracterización de partículas atrapadas en filtros muestreadores usando análisis de imagen

2019-03-042019-03-041999https://repositorio.minciencias.gov.co/handle/20.500.14143/3040471 h.Metodología para la caracterización de partículas atrapadas en filtros muestreadores usando análisis de imagenIncluye bibliografíail., diagrs.28 cm. + 4 disquetes.ELECTRONICA, TELECOMUNICACIONES E INFORMATICAFILTROS PARA PARTICULASLENGUAJES DE PROGRAMACION (COMPUTADORES ELECTRONICOS)NORMAS TECNICAS